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Case / 最新案例
2013 - 11 - 30
点击次数: 1120
现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能,测试样品举例如下面几幅图片。 用非接触法测试上述这些材料的介电常数,不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高,测试的准确度高。 理论上的可行性: 其中: Cg:没...
2015 - 02 - 06
点击次数: 753
wayneker阻抗分析仪在材料表征和测量领域新标杆 ——Partulab高温介电测量系统 2015年1月30日,武汉佰力博科技(Partulab)隆重宣布新产品VDMS系列上市销售,此次发布的VDMS系列产品主要有:高温介电测量系统VDMS2000H和变温介电测量系统VDMS2000HL,主要应用于研究材料表征和材料介电性能,实现了高温、低温、变温、真空、气氛等条件下材料表征性能测量,该产品的成...
2013 - 11 - 30
点击次数: 707
NFC模块测试条件测试频率:13.56MHz测试参数:L、Q or Rs磁导率:μ' & μ" at 13.56MHz饱和DC偏置电流: 1A ~ 10AWPC模块测试条件测试频率范围: 100KHz ~ 500KHz测试参数:L ~10uH、Q > one certain figure、Rs ≥ 30mΩ自谐振频率范围:2MHz ~ 15MHz饱和DC偏置电流:1A ~ 10A
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