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技术支持 Service
  • 设定好WK3265 DC Bias, 电流打不上去的问题 2014 - 11 - 15
         假设WK3265 DC Bias的电流设定好60Amp, 开始扫饱和电流时,发现达不到60Amp就自动跳掉, 萤幕上会出现 DC Bias turn off, 可能应该是接触阻抗太高,最主要的问题,发现在测试治具的红黑两条线,连接到WK3265B本身的螺丝锁得不够紧。或者後面RS232的接头,锁得不够紧,如果这两方面的测试线材都确实检查无误,那请跟我们联系26523879, 我们将尽快为您服务。
  • WK 6500 系列最新软体版本software (2.100) 於2008年3/27号发行 2014 - 11 - 15
    本版本的软体主要提供了 LAN/Ethernet interface启动的功能. 可提供使用者进行远端操控的功能.
    相关的软体更新档案, DEMO软体及软体安装使用说明, 请就近跟我们各地的分公司业务部人员洽询.

     

  • 请使用原厂测试夹具确保量测精确度 2014 - 11 - 15
          日前本公司技术人员在两家着名的公司进行量测精度的比较, 发现客户使用非英国的量测夹具或者使用它牌的夹具, 因夹具杂散电容太大, 虽然勉强花了一些时间通过校正程序但是量测出来的 D值及ACR值却受到影响.
          直到我们更换了原厂的测试夹具才得到一模一样的比对结果. 在此希望您能重视此问题, 因设计及产品品质的高低层级不同, 虽然BNC介面是相同的, 但是再加上杂散电容的影响及软体补偿方式的不同, 请您在使用Wayne Kerr 机器时, 只使用原厂的测试夹具. 以确保量测的精确性. 并要求提供原产地证明, 以避免以原装的单价采购仿制品影响测试结果.
  • Kelvin Clip的橡胶束环磨损问题 2014 - 11 - 15
          Kelvin Clip使用过一段时间後, 会发生橡胶束环弹性疲乏的状况, 导致大部分的客户会使用橡皮筋来固定. 对於美观上的观点来说, 会有一些程度上的影响. 如有橡胶束环的需求或新的Kelvin Clip的需求, 请致电本公司业务部.

     

  • WK 3260 系列有效且正确的校正, 该如何进行? 2014 - 11 - 15

    Trimming

    归零的作用是消除连接线或治具间的电容或串联阻抗所带来的影响。 归零数值储存於记忆体中,通常情况下无需重新归零。 除了以下几种状况:

    · 当量测极高或极低的电感,需要最精确的读数时;

    · 当在不同模式之间转换时,要求达到最高精确度时;

    · 4线2线操作之间的转换时;

    · 当在HANDLER MODE与普通模式间进行转换时换;

    根据所选的专案,仪器可以在一定的频率范围内归零,包括启动归零程式时的量测频率,并保存每一个频率点的校正值。如果测试频率有变换,设备将自动依据所选择的频率值调出校正值。Rdc的校正值也同时存储。
    开路归零O/C Trim 时凯文夹或治具介面必须依据被测物接头端的长度的等同距离分开。

    短路归零 S/C Trim 时,必须将测试夹介面接到一段导线上,间距必须越小越好。勿将测试夹直接夹在一块,否则将影响4线的短路,可导致归零错误。

    做高频引线补偿HF Lead Compensation (6440B 及 带分析功能的须将随机配置的标准校正电容接到凯文夹或治具上。必须先进行开路/短路归零方可执行高频引线补偿 。
    详细归零动作请参考附件档案的详细说明。

     

    WK 3260中文校验步骤详细说明 附件下载

     

  • WK 3260 加上WK 3265 直流重叠电流测试时, 使用两线式鳄鱼夹治具, 如何做安全且准确的量测? 2014 - 11 - 15
          目前绝大部分的客户都使用两线式鳄鱼夹治具来做大电流的量测. 为了确保量测的稳定性, 方便性及准确性, 请确定所使用的测试线是确实的焊接在两边的鳄鱼夹及套环上, 而不是只有用钳子夹紧. 并注意其电线长度(含BNC线的长度)不可太长, 否则将严重导致 Open trim, Short trim及 HF compensation不完整. 测试数据不准确. 为了提供安全的量测环境跟得到最好的量测数据, 日前本公司已开发出高电流DIP跟SMD 的测试治具. 最高可量测125 Amp, 连续一小时以上, 耐200度高温并具有高感性的安全开关. 测试时不需要接触到待测零件. 如有需要我们提供更进ㄧ步资料, 请来电跟我们连络.

     

Case / 最新案例
2013 - 11 - 30
点击次数: 777
现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能,测试样品举例如下面几幅图片。 用非接触法测试上述这些材料的介电常数,不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高,测试的准确度高。 理论上的可行性: 其中: Cg:没...
2015 - 02 - 06
点击次数: 542
wayneker阻抗分析仪在材料表征和测量领域新标杆 ——Partulab高温介电测量系统 2015年1月30日,武汉佰力博科技(Partulab)隆重宣布新产品VDMS系列上市销售,此次发布的VDMS系列产品主要有:高温介电测量系统VDMS2000H和变温介电测量系统VDMS2000HL,主要应用于研究材料表征和材料介电性能,实现了高温、低温、变温、真空、气氛等条件下材料表征性能测量,该产品的成...
2013 - 11 - 30
点击次数: 484
 NFC模块测试条件测试频率:13.56MHz测试参数:L、Q or Rs磁导率:μ' & μ" at 13.56MHz饱和DC偏置电流: 1A ~ 10AWPC模块测试条件测试频率范围: 100KHz ~ 500KHz测试参数:L ~10uH、Q > one certain figure、Rs ≥ 30mΩ自谐振频率范围:2MHz ~ 15MHz饱和DC偏置电流:1A...
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