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新闻发布 News
发布时间: 2016 - 04 - 12 点击次数: 128
4月8日—10日,第四届中国电子信息博览会在深圳会展中心成功举办,本届展会以“创新·智能·融合”为主题,展出面积超过100000平方米,吸引了来自世界各国的超过1700家行业领军企业参展,展会期间吸引了超过12万人次买家和专业观众,同期举办40余个主题、超过100场研讨活动,重点发布超过3000件新产品新技术。
发布时间: 2015 - 04 - 17 点击次数: 273
深圳稳科电子仪器有限公司于2015年4 月在深圳会展中心,参与“第三届中国电子信息博览会(CTTE)展会”。
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 336
250-Amp DC Bias Unit 高电流直流偏压源 -- WK3265B (测试实况)    本公司新推出250A高电流直流偏压源---WK3265B* 高达250A的DC偏置电流* 四线或两线测试方式* 应用于测试线圈,变压器,电感工作状态的饱和特性并搭配WK3260B(3MHz)精密磁性元件分析仪WK3260(1台)+WK3265(10台) 250A 照片欢迎来电咨询. TEL:  0755 2652 3879
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 258
 贺WK6565获"中国 2014 创新产品与应用奖"     WK6565高频直流重叠电流源于2013年8月在英国研制成功,    并於同年10月获"2013 TAITRONICS 创新科技金牌奖"  再於2014年4月获"中国 2014 CITE 创新产品与应用奖"     连续得奖对於本公司新产品是极大的鼓励与肯定,  本公司将秉持一贯理念,持续创新研发功能与品质第一的产品,   并提供使用者最佳的售後服务。
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 267
新型测试治具发布-高频生产线测包机四线式SMD专用治具    本公司最新研发测试治具-高频生产线测包机四线式SMD专用治具,目前已申请发明及新型专利,其最高量测频率为10MHz。待测物470nH在1MHz下, Rs约40mΩ,重覆性为+1.13%~-1.6%,全频段1MHz~10MHz,Rs重覆性为+1.78%~-1.78%。 欢迎来电洽询,电话 0755-2652 3879,本公司当竭诚为您服务。
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 197
新产品发布-精密阻抗分析仪及高频LCR Meter之 1Amp, 2Amp 及2.5Amp DC Bias选配    本公司发布新产品- 精密阻抗分析仪6500B系列及高频LCR Meter 6500P系列之1Amp, 2Amp 及2.5Amp DC Bias选配。   欢迎来电洽询产品相关事项,电话:0755-2652 3879。本公司当竭诚为您服务。
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 131
250-Amp DC Bias Unit 高电流直流偏压源--WK3265B    本公司新推出250A高电流直流偏压源---WK3265B* 高达250A的DC偏置电流* 四线或两线测试方式* 应用於测试线圈,变压器,电感工作状态的饱和特性并搭配WK3260B(3MHz)精密磁性元件分析仪 欢迎来电洽询,电话 0755-2652 3879,本公司当竭诚为您服务。
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 61
WPC module test 、NFC module test,本公司可提供最完整的测试解决方案   针对WPC module test 、NFC module test,本公司可提供最完整的测试解决方案,包含研发的导入、高频治具的制作、客制化软体服务、测试咨询、IQC 、生产线快速生产等, 如果需要相关技术咨询,欢迎来电洽询,电话 0755-2652 3879。
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 98
Wayne Kerr即日起提供 NFC Antena 天线13.56MHz 测试解决方案,主要应用在近场通讯 (NFC) , 使用WK6520B/P为测试主机。     Wayne Kerr即日起提供 NFC Antena 天线13.56MHz 测试解决方案,主要应用在近场通讯(Near Field Communication,NFC),又称近距离无线通讯。主要使用WK6520B/P为测试主机,搭配高频测试治具,量测13.56MHz之Rs,X,L and Z。欢迎来电洽询,电话 0755-2652 3879,本公司当竭诚为您服务。
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 105
DC to DC Converter中的电源管理IC频率提升到2MHz~6MHz以上,本公司相对应机型WK6506P 6MHz LCR Meter    因应DC to DC Converter中的电源管理IC频率提升到2MHz~6MHz以上,目前测试仪器业界并没有测试解决方案,本公司因势利导同步发表相对应机型WK6506P 6MHz LCR Meter来提供业界测试使用。欢迎来电洽询,电话 0755-2652 3879,本公司当竭诚为您服务。
Case / 最新案例
2013 - 11 - 30
点击次数: 811
现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能,测试样品举例如下面几幅图片。 用非接触法测试上述这些材料的介电常数,不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高,测试的准确度高。 理论上的可行性: 其中: Cg:没...
2015 - 02 - 06
点击次数: 562
wayneker阻抗分析仪在材料表征和测量领域新标杆 ——Partulab高温介电测量系统 2015年1月30日,武汉佰力博科技(Partulab)隆重宣布新产品VDMS系列上市销售,此次发布的VDMS系列产品主要有:高温介电测量系统VDMS2000H和变温介电测量系统VDMS2000HL,主要应用于研究材料表征和材料介电性能,实现了高温、低温、变温、真空、气氛等条件下材料表征性能测量,该产品的成...
2013 - 11 - 30
点击次数: 511
 NFC模块测试条件测试频率:13.56MHz测试参数:L、Q or Rs磁导率:μ' & μ" at 13.56MHz饱和DC偏置电流: 1A ~ 10AWPC模块测试条件测试频率范围: 100KHz ~ 500KHz测试参数:L ~10uH、Q > one certain figure、Rs ≥ 30mΩ自谐振频率范围:2MHz ~ 15MHz饱和DC偏置电流:1A...
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