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新闻发布 News
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 118
WK6420A / WK6420B / WK6420C已PHASE OUT欢迎来电洽询新产品,可安排前往demo展示 欢迎来电洽询,电话 0755-2652 3879,本公司当竭诚为您服务。
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 111
WK4235/WK4236/WK4237已PHASE OUT由WK4100系列取代.欢迎来电洽询WK4100系列,可安排前往demo展示 • 业务窗口: 林文钦 Tel:02-29158990 ext:16
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 117
Wayne Kerr 产品持续创新与升级,各机种软硬体升级功能,详见於内!    依据客户的建议以及测试需求,持续各机种的升级跟创新,各机种新升级功能如下:Wayne Kerr WK3260/3255/3265 SeriesDelta L by auto calculation。DC Bias Ramp up and ramp down。Increasing production throughput from 25pcs/per minute to 43pcs/per minute。Multi-Bias function。DC Bias Build u...
发布时间: 2015 - 01 - 28 点击次数: 97
电容测试厂商Danbridge加入Wayne Kerr集团 拓展主力产品线作者:ET电子技术编辑部2011/11/23电容测试厂商Danbridge加入Wayne Kerr集团 拓展主力产品线 作者:ET电子技术编辑部2011/11/23 Wayne Kerr集团为全面提升对於电子零件测试方面的客户更加完善的服务能力,即日起知名电容测试厂商Danbridge加入成为Wayne Kerr集团的一份子。在Danbridge加入Wayne Kerr集团的旗下阵容之後,公司将形成三大主力的产品线:英国Wayne Kerr提供原有的LCR Meter、DC Bias与阻抗分析仪的测试业务;而丹麦Danb...
Case / 最新案例
2013 - 11 - 30
点击次数: 976
现在市场上测试的一些材料表面无法加工甚至不可能加工至非常光滑,两面也无法做到平行度非常好,这样用接触法测试这种材料的介电常数由于有空气间隙的将会存在非常大的误差,如果要求测试这种材料频率从20Hz~40MHz几乎不可能,测试样品举例如下面几幅图片。 用非接触法测试上述这些材料的介电常数,不进对材料的表面的粗糙度还有两个面的平行度的要求不是特别高,测试的准确度高。 理论上的可行性: 其中: Cg:没...
2015 - 02 - 06
点击次数: 681
wayneker阻抗分析仪在材料表征和测量领域新标杆 ——Partulab高温介电测量系统 2015年1月30日,武汉佰力博科技(Partulab)隆重宣布新产品VDMS系列上市销售,此次发布的VDMS系列产品主要有:高温介电测量系统VDMS2000H和变温介电测量系统VDMS2000HL,主要应用于研究材料表征和材料介电性能,实现了高温、低温、变温、真空、气氛等条件下材料表征性能测量,该产品的成...
2013 - 11 - 30
点击次数: 610
NFC模块测试条件测试频率:13.56MHz测试参数:L、Q or Rs磁导率:μ' & μ" at 13.56MHz饱和DC偏置电流: 1A ~ 10AWPC模块测试条件测试频率范围: 100KHz ~ 500KHz测试参数:L ~10uH、Q > one certain figure、Rs ≥ 30mΩ自谐振频率范围:2MHz ~ 15MHz饱和DC偏置电流:1A ~ 10A
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