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Wayne Kerr 产品持续创新与升级,各机种软硬体升级功能,详见於内!

日期: 2015-01-28
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Wayne Kerr 产品持续创新与升级,各机种软硬体升级功能,详见於内!    

依据客户的建议以及测试需求,持续各机种的升级跟创新,各机种新升级功能如下:

Wayne Kerr WK3260/3255/3265 Series
Delta L by auto calculation。
DC Bias Ramp up and ramp down。
Increasing production throughput from 25pcs/per minute to 43pcs/per minute。
Multi-Bias function。
DC Bias Build up 1 Amp,2 Amp for WK3255。
Mescoview software keeps upgrade。
2 and 4 wire high Current precision Bias fixture。
Can achieve 0.2mohm Rs, Rdcmeasurement。
Excellent Rs, Rdc and Q repeatability。
Temperature raise up test by sensor, not convert by Rdc.
Wayne Kerr WK6500 Series
Material Test(Core Loss)
Piezo/ Crystal Test
Resonance Research
Polar/ Complex plot
Wayne Kerr WK4100/WK4300
0403 SMD电感搭配封包机测试速度最快 540 pcs/ Minute以上,为同型几种五倍以上的测试速度。
一次显示四种参数,两个测试频率。
四种Binning模式。
提供自动化生产线Offset 功能,提高品质控管。

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